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      1. 400-633-0908
        181 2654 7679
        權(quán)威公正 傳遞信任
        彰顯品質(zhì) 創(chuàng)造價(jià)值
        鍍層涂層失效分析

        涂層/鍍層是指為了好看或儲(chǔ)藏而涂在/鍍?cè)谀承┪锲飞系慕饘俦砻嫱可弦粚铀芰?,或者一層稀薄的金屬或?yàn)榉略炷撤N貴重金屬,在普通金屬的表面鍍上這種貴重金屬的薄層。復(fù)合鍍層的制備是在鍍液中加入一種或數(shù)種不溶性固體顆粒,使固體顆粒與金屬離子共沉積的過程,它實(shí)際上是一種金屬基復(fù)合材料。

        涂層/鍍層是指為了好看或儲(chǔ)藏而涂在/鍍?cè)谀承┪锲飞系慕饘俦砻嫱可弦粚铀芰希蛘咭粚酉”〉慕饘倩驗(yàn)榉略炷撤N貴重金屬,在普通金屬的表面鍍上這種貴重金屬的薄層。復(fù)合鍍層的制備是在鍍液中加入一種或數(shù)種不溶性固體顆粒,使固體顆粒與金屬離子共沉積的過程,它實(shí)際上是一種金屬基復(fù)合材料。


        失效模式

        分層,開裂,腐蝕,起泡,涂/鍍層脫落,變色失效等


        主要涉及的檢測(cè)項(xiàng)目

        檢測(cè)項(xiàng)目

        儀器設(shè)備

        成分分析

        傅里葉紅外光譜儀(FTIR)、顯微共焦拉曼光譜儀(Raman)、掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)、X射線熒光光譜分析(XRF)、氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀(GC-MS)、裂解氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用(PGC-MS)、核磁共振分析(NMR)、俄歇電子能譜分析(AES)、X射線光電子能譜分析(XPS)、X射線衍射儀(XRD)、飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜分析(TOF-SIMS)

        熱分析

        差示掃描量熱法(DSC)、熱機(jī)械分析(TMA)、熱重分析(TGA)、動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析(DMA)、導(dǎo)熱系數(shù)(穩(wěn)態(tài)熱流法、激光散射法)

        斷口分析

        體式顯微鏡(OM)、掃描電鏡分析(SEM)

        物理性能

        拉伸強(qiáng)度、彎曲強(qiáng)度等

        模擬試驗(yàn)(必要時(shí))

        在同樣工況下進(jìn)行試驗(yàn),或者在模擬工況下進(jìn)行試驗(yàn)。


        失效分析流程

        (1)失效背景調(diào)查:產(chǎn)品失效現(xiàn)象?失效環(huán)境?失效階段(設(shè)計(jì)調(diào)試、中試、早期失效、中期失效等等)?失效比例?失效歷史數(shù)據(jù)?

        (2)非破壞分析:X射線透視檢查、超聲掃描檢查、電性能測(cè)試、形貌檢查、局部成分分析等。

        (3)破壞性分析:開封檢查、剖面分析、探針測(cè)試、聚焦離子束分析、熱性能測(cè)試、體成分測(cè)試、機(jī)械性能測(cè)試等。

        (4)使用條件分析:結(jié)構(gòu)分析、力學(xué)分析、熱學(xué)分析、環(huán)境條件、約束條件等綜合分析。

        (5)模擬驗(yàn)證實(shí)驗(yàn):根據(jù)分析所得失效機(jī)理設(shè)計(jì)模擬實(shí)驗(yàn),對(duì)失效機(jī)理進(jìn)行驗(yàn)證。

        注:失效發(fā)生時(shí)的現(xiàn)場(chǎng)和樣品務(wù)必進(jìn)行細(xì)致保護(hù),避免力、熱、電等方面因素的二次傷害。


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