概述：切片分析是以剖面為基礎(chǔ)發(fā)展起來(lái)的一種分析方法，廣泛應(yīng)用于檢查電子組件、電路板或機(jī)構(gòu)件內(nèi)部狀況、焊接狀況，延續(xù)與擴(kuò)展了剖面的內(nèi)涵與外延。

應(yīng)用領(lǐng)域

電子行業(yè)、金屬/塑料/陶瓷制品業(yè)、汽車零部件及配件制造業(yè)、通信設(shè)備、科研等。

切片方法分類

一般的微切片方法可分成縱切片（沿垂直于板面的方向切開）和水平切片（沿平行于板面的方向切開），除此之外也有切孔和斜切片方法。

目的：檢查特定位置內(nèi)部結(jié)構(gòu)和內(nèi)部缺陷

檢驗(yàn)步驟：切割（鑲嵌）——磨光——拋光——吹干——觀察評(píng)定

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：IPC-TM 650 2.1.1、IPC-TM 650-2.2.5、IPC A 600、IPC A 610等。

測(cè)試圖片

切片分析的應(yīng)用

1.金屬/非金屬材料切片分析

觀察金屬/非金屬材料或制品內(nèi)部結(jié)構(gòu)及缺陷分析、電鍍工藝分析、切片后的樣品可以用于觀察形貌與分析成份，通過(guò)切片的方法來(lái)觀察內(nèi)部結(jié)構(gòu)情況、驗(yàn)證樣品所發(fā)現(xiàn)的疑似異常開裂、空洞等情況。  

2.電子元器件切片分析

借助切片分析技術(shù)和高倍率顯微鏡確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象，分析工藝、原材料缺陷。通過(guò)顯微剖切技術(shù)制得的微切片可用于電子元器件結(jié)構(gòu)剖析、檢查電子元器件表面及內(nèi)部缺陷檢查。

3.印制線路板/組裝板切片分析

通過(guò)切片進(jìn)行品質(zhì)判定和對(duì)不良的原因作出初步分析及測(cè)試印制板的多項(xiàng)性能。

例如：樹脂沾污，鍍層裂縫，孔壁分層，焊料涂層情況，層間厚度，鍍層厚度，孔內(nèi)鍍層厚度，側(cè)蝕，內(nèi)層環(huán)寬，層間重合度，鍍層質(zhì)量，孔壁粗糙度等。

通過(guò)印制電路板顯微剖切技術(shù)制得的微切片可用于檢查PCB內(nèi)部導(dǎo)線厚度、層數(shù)、通孔孔徑大小、通孔質(zhì)量觀察，用于檢查PCBA焊點(diǎn)內(nèi)部空洞，界面結(jié)合狀況，潤(rùn)濕質(zhì)量評(píng)價(jià)等。