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      1. 400-633-0908
        181 2654 7679
        權(quán)威公正 傳遞信任
        彰顯品質(zhì) 創(chuàng)造價值
        異物分析

        異物分析,是專門分析產(chǎn)品上的微小嵌入異物或表面污染物、析出物進(jìn)行之成分的技術(shù)。例如對表面嵌入異物、斑點、油狀物、噴霜等異常物質(zhì)進(jìn)行定性分析,藉此找尋污染源或配方不相容者,是改善產(chǎn)品最常用的分析方法之一。

        異物分析,是專門分析產(chǎn)品上的微小嵌入異物或表面污染物、析出物進(jìn)行之成分的技術(shù)。例如對表面嵌入異物、斑點、油狀物、噴霜等異常物質(zhì)進(jìn)行定性分析,藉此找尋污染源或配方不相容者,是改善產(chǎn)品最常用的分析方法之一。

         

        應(yīng)用范圍

        針對產(chǎn)品上的表面污染物、析出物等異常物質(zhì),如產(chǎn)品表面的顆粒物、油狀物、霧狀物、斑點等。


        表面異物分析項目

        1.有機異物分析

        2.無機異物分析

        3.未知異物分析

        4.產(chǎn)品異?,F(xiàn)象比對分析


        主要分析方法

        方法

        應(yīng)用范圍

        紅外光譜法
        FTIR

        1.顯微FTIR, 僅需10um以上樣品即可測試
        2.有機物成分分析 (400-4000cm-1)

        掃描電子顯微鏡和能量色散X射線譜法
        SEM/EDS

        1.固體
        2.元素分析/元素分布 (B-~U) /形貌觀察

        俄歇電子能譜分析儀法
        AES

        極表面 (0-3nm) 分析設(shè)備

        X射線電子光能譜分析法
        XPS

        1.更精密的元素分析
        2.元素價態(tài), 存在形式分析

        飛行時間?次離子質(zhì)譜分析法
        TOF-SIMS

        ppm級別表面有機成分分析

        動態(tài)?次離子質(zhì)譜分析法
        D-SIMS

        ppb級表面及芯部成分分析

        氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀分析法
        GC-MS

        1.固體/液體
        2.易揮發(fā)組分測試


        分析步驟

        1、表面觀察:主要采用光學(xué)顯微鏡觀察(OM)觀察異物在表面還是嵌入在基體材料內(nèi)。

        2、異物物質(zhì)種類判斷:主要采用傅里葉變換紅外光譜儀(FTIR)、顯微紅外(M)判斷異物主要是有機物還是無機物。

        3、有機物分析手段:可能涉及Py-GCMS、萃取GC-MS、MS等。

        4、無機物分析手段(主要是元素分析):主要采用掃描電鏡能譜儀(SEM-EDS)等。


        測試儀器

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